分立器件

公司拥有专利的分立器件模块和测试方案,创造性的把高压和大电流集合到一个模块,实现了一些传统技术不能达成的测试方案,下面是一些行业内领先的Mosfet测试方案:

业内独有拥有专利的高速分立器件测试模块DDC1230/E(1400V/30A/100A),一个模块可以覆盖1400V以内所有分立器件的直流项目测试,而且具有极快的测试速度,一般的二极管和简单的mosfet,测试时间在20ms左右,远远快于传统的分立器件测试机。

产品种类产品名称电压参数(V)电流参数(V)测试时间(ms
二极管 IN4148160V 25ms
MosfetNPN*6N80C885V3.8A39ms
MosfetNPN**FBG301180V2A45ms
MosfetNPN**3606PB60V60A47ms
MosfetNPN**FBG301180V2A48ms8颗同测)

备注:测试时间在常规测试项目和测试条件下取得。如果用两片DDC1230/E采取分站并测的模式(Index Parallel),测试时间还可以减半。